Catalogue Search | MBRL
Search Results Heading
Explore the vast range of titles available.
MBRLSearchResults
-
Is Peer ReviewedIs Peer Reviewed
-
Item TypeItem Type
-
SubjectSubject
-
SourceSource
-
YearFrom:-To:
-
More FiltersMore FiltersLanguage
Done
Filters
Reset
2
result(s) for
"توزيع وايبل الاحتمالي"
Sort by:
فعالية استخدام توزيع وايبل الاحتمالي في التنبؤ
2011
حاولنا في هذا البحث تطبيق أحد التوزيعات الاحتمالية المستمرة، ولاسيما توزيع وايبل الاحتمالي الذي يستخدم في دراسة الموثوقية (Reliability) والرقابة على الجودة (Quality Control) وفي التنبؤ، وقد قمنا بتطبيقه على بيانات فعلية لدرجات الحرارة العظمى والأمطار لمدينة دمشق خلال المدة(1988- 2007) وتوصلنا إلى الآتي: * كيفية تحويل توزيع وايبل الاحتمالي إلى الانحدار الخطي وكيفية تقدير معلمته؛ * إمكانية استخدام توزيع وايبل الاحتمالي المعمم في إيجاد الاحتمال المتوقع لدرجات الحرارة العظمى؛ * محاولة تطوير أساليب التقدير وتقانات التحليل الإحصائي.
Journal Article
Marshall-Olkin Extended Exponentiated Burr Type XII Distribution Properties and Applications
by
Abd El Gaied, Amarat Abd El Gaied
in
التوزيعات الاحتمالية
,
التوزيعات المتصلة
,
التوزيعات المختلطة
2017
In this paper, a new continuous distribution, called exponentiated T-X family distribution is defined and studied. We introduce Marshall-Olkin Extended Exponentiated Burr Type XII (MOEE Burr-XII) distribution as application on exponentiated T-X family distribution. Marshall and Olkin (1997) provided a general method to introduce a parameter into a family of distributions, and discussed in details about the exponentiated family and Burr distribution. We study some of its structural properties including moments, moment generating function, incomplete moment, mean deviations, Renyi entropy, mode and quantial, We obtain the density function of the order statistics and their moments. The method of maximum likelihood is proposed for estimating the model parameters. We obtain the observed information matrix. The usefulness of the new model is illustrated by means of two real sets. We hope that this generalization may attract wider applications in reliability and lifetime data analysis.
Journal Article